クロックの検証および代用

クロックの検証および代用

ジッタおよび位相雑音性能検証

A/DコンバーターおよびD/Aコンバーター(ADC/DAC)は、10年前と比べて速度面で大きく進歩しました。16ビット分解能で10 Gサンプル/秒のサンプリングレートも登場しています。これらのデバイスにより、高速ビデオ処理やソフトウェア定義無線機(SDR)アプリケーションが可能になります。これらのアプリケーションでは、これまで以上に高いRF周波数でデジタル化が行われます。このため、特にジッタや雑音特性に関するクロック発生とテストに必要なレベルが明らかに高くなっています。

クロックの検証および代用のソリューション

理想的なクロックソースが必要な場合

今日のデジタルデザインと高速データコンバーターには、ジッタが最小のクリーンなクロックが必要です。

詳しくは

タイムドメインと周波数ドメインのジッタ測定の比較

高速と低速の移動アーチファクトを区別するため、タイムドメイン用と周波数ドメインのジッタ測定を使用します。

詳しくは

クロックソースの検証

クロックソースの信号純度は、システムの性能に直接影響を与えるため、検証が必要です。

詳しくは

1 MHz~50 GHzをカバーする、相互相関法を使用したダイレクトダウンコンバージョン方式の位相雑音アナライザ

新しい位相雑音テストソリューションは、ダイレクトダウンコンバージョン方式のアナログI/Qミキサーとベースバンド信号サンプリングを使用して周波数レンジ1 MHz~50 GHzをカバーします。

詳しくは

関連製品

R&S®SMA100B RF/マイクロ波信号発生器

R&S®SMA100B RF/マイクロ波信号発生器は、妥協のない最高の性能を提供します。

商品情報

R&S®FSWP 位相雑音アナライザ/VCOテスタ

R&S®FSWP 位相雑音アナライザ/VCOテスタは、極めて低ノイズの内蔵信号源と相互相関技術を組み合わせて使用します。

商品情報

R&S®RTO2000 オシロスコープ

600 MHz~6 GHzの帯域幅を備えたR&S®RTO2000 オシロスコープは、タイムドメインと周波数ドメインの両方のテストで威力を発揮します。

商品情報

関連ビデオ

First class ADCs thanks to first class signals

First class ADCs thanks to first class signals

This video presents how the R&S®SMA100B supports you in measuring the true performance of ADCs. The R&S®SMA100B provides you with purest signals. This makes ADC testing easy and helps you improving your products.

More information

Signals with lowest phase noise

R&S®SMA100B - Signals with lowest phase noise

Radar engineering, data converter testing, base station blocking tests - all of them require signals with lowest phase noise at the relevant offset frequencies.

More information

Demystifying 5G - Testing a 5G IF transceiver

5Gのわかりやすい解説 - 5G IFトランシーバーのテスト

このビデオでは、Texas Instrumentsの最新のデータコンバーターを使用して、5G NRのディスクリートトランシーバーをテストする方法を実演します。

詳しくは

Demystifying 5G - Testing the true performance of ADCs

5Gの分かりやすい解説 - ADCの実力をテストする

ローデ・シュワルツのR&S®SMA100B RF/マイクロ波アナログ信号発生器は、最大の出力パワー、最小の位相雑音、最小の広帯域ノイズを特長とし、このビデオのデモで示すように、高分解能のADC/DACテストには最適です。

詳しくは

Demystifying 5G - Wideband noise and its impact on testing the true performance of ADCs

5Gのわかりやすい解説 - 広帯域ノイズとADCの実力をテストする際の影響

このビデオでは、広帯域ノイズと、ADCの性能への広帯域雑音の影響を中心に説明します。

詳しくは

関連トピック/ソリューション

電子設計

電子技術者は、統合基板アーキテクチャーのデザイン/開発時には複雑な課題に直面します。

詳しくは

アナログ/デジタルデザインおよびテスト

最新の電子設計では、非常に小さなスペースに多くの機能を統合して、高速データレートと低い信号レベルを実現しています。

詳しくは

RFおよびマイクロ波コンポーネントのテスト

コンポーネントは、モビリティー、コネクティビティー、高速データレート、堅牢性、電力効率に対応する必要があります。

詳しくは

リクエスト情報

ご質問や詳細な情報のご要望などがございましたら、こちらのフォームよりお気軽にお問い合わせください。担当者よりご連絡させていただきます。

次の手段によってローデ・シュワルツから情報を受信することを希望します。

マーケティング・パーミッション

詳細について

私は、このウェブサイトの出版物に記載されているRohde & Schwarz GmbH & Co. KGおよびRohde & Schwarzの法人および子会社が、
ここで選択した手段 (電子メールまたは郵便メール) を通じて、マーケティングおよび広告目的 (特別キャンペーンや値引きに関する情報など) で、私に連絡することに同意します。その内容は、電子計測、セキュリティ通信、モニタリングおよびネットワークテスト、放送およびメディア、そしてサイバーセキュリティ分野の製品やソリューションを含みますが、上記に限定されるものではありません。

お客様の権利

この同意表明は、件名が"Unsubscribe"の電子メールをnews@rohde-schwarz.com宛に送信することにより、いつでも取り消すことができます。これに加えて、今後の電子メール広告の購読を停止するためのリンクが、送信されるすべての電子メールに記載されています。個人データの使用と取り消し手順の詳細は、「プライバシーステートメント」に記載されています。

お問い合わせ内容が送信されました。 後ほどご連絡致します。
An error is occurred, please try it again later.