Charakterisierung und Produktionstests von Bauteilen

Ihre Anforderungen

Zwischen Charakterisierung und Produktion gibt es viele Gemeinsamkeiten. Tatsächlich werden bei Produktionstests oft die gleichen Verfahren und Methoden wie bei der Charakterisierung eingesetzt, aber mit reduzierter Testtiefe.

• Sicherstellung der Produktqualitätbei der Skalierung von Laborproben bis zur Massenfertigung
• Automatisierte Tests mit der richtigen Balance zwischen Testgenauigkeit und Geschwindigkeit
• Schnellere Markteinführungmit vollständig qualifizierten Produkten
• Korrelation der Testergebnissevon der Entwicklung über die Charakterisierung bis zur Produktion

Besondere Anforderungen bei der Charakterisierung:

• Charakterisierung des Loses innerhalb einer kurzen Zeit bei hoher Genauigkeit und Empfindlichkeit
• Verifizierung der Komponenten in einem kleinen Los mit allen Grenzfällenfür Pegel und Temperatur zur Produktionsfreigabe
• Ausführung von Stresstestswie High Accelerated Stress Screening (HASS) und High Accelerated Life Cycle Testing (HALT) zur Sicherstellung der Produktqualität

Spezifische Anforderungen bei der Produktion:

• Gewährleistung höchsten Duchsatzes durch geschwindigkeitsoptimierte Tests und minimierte Testtiefe
• Sicherstellung der einwandfreien Funktion aller das Werk verlassenden Bauteile durch den genau richtigen Testumfang
• Erkennen defekter Einheiten zu einem möglichst frühen Zeitpunkt im Produktionsprozess

Produktionslösungen für HF- und Mikrowellen-Komponenten

• Der kompakte Vektor-Komponentenanalysator R&S PVT360Aermöglicht höchsten Duchsatzdank integrierter Sequenzierung, Parallelisierung von Tests und Datenverarbeitung sowie Unterstützung mehrerer Standorte. Das Produkt ist für stabile Testbedingungen mit hoher Wiederholgenauigkeit und geringster Drift optimiert.
• Der R&S ZNBTVektornetzwerkanalysator ist für Geschwindigkeit optimiert und ermöglicht parallele Testsan vielen Geräten mit bis zu 24 Messtoren gleichzeitig.
• Die R&S®ZNrunAutomatisierungs-Suite für Vektornetzwerkanalysatoren sorgt für eine effiziente Nutzung der vielen Messtore der Multiport-VNA-Lösungen bei gleichzeitiger Optimierung des Durchsatzes.
• On-Wafer-Testssind möglich durch die Integration unserer Vektornetzwerkanalysatoren mit den führenden Wafer-Prober- HerstellernMPI Corporation und Formfactor
• Der Instruments Health & Utilization Monitoring Service (HUMS) erleichtert die Verwaltung der eingesetzten Testgeräte und liefert einen detaillierten Überblick über deren Zustand und die Nutzung.
• Mit dem Rohde & Schwarz WMTSoftware-Service stehen Ihnen erfahrene Applikationsingenieure beiallen Fragen zur Seite. Gemeinsam entwickeln wir eine Testlösung, die Ihren Anforderungen optimal gerecht wird. Dazu gehören die Automatisierung, die Verarbeitung der Ergebnisse und die Erstellung von Testberichten.