Ensayos de interfaz digital de alta velocidad, ensayo de DDR

DDR (memoria de doble velocidad de transferencia de datos)

Depure y verifique su diseño de DDR de manera eficiente

Depuración y verificación de diseños - Ensayos de conformidad

Según lo define JEDEC: la necesidad de incrementar la velocidad, capacidad de memoria y eficiencia energética está marcando la evolución de las tecnologías de interfaz DDR y LPDDR. En estrecha colaboración con JEDEC, Rohde & Schwarz le ofrece potentes soluciones para los ensayos de conformidad de las DDR.

Como parte del diseño general, los dispositivos de memoria y el controlador de memoria DDR también deben funcionar correctamente en presencia de otras interfaces de alta velocidad o incluso de señales inalámbricas. Además de llevar a cabo ensayos de conformidad, las soluciones de ensayo de DDR de Rohde & Schwarz le permitirán verificar y depurar eficientemente el circuito y el sistema de sus diseños.

Osciloscopios para la verificación y depuración de interfaces, ensayos de conformidad y análisis de TDR
Analizadores de redes para tarjetas impresas y análisis interconectados

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Guía paso a paso

Sondeo de vanguardia en el diseño de memorias DDR3/DDR4

Cuando se prueban diseños de memorias de doble velocidad de transferencia de datos (DDR) es importante tanto evaluar las técnicas de medición, como también las soluciones de sondeo. Seleccionar la sonda correcta, sondear en el lugar correcto, modificar la impedancia de la punta de sonda para compensar las resistencias del intermediador y mejorar la precisión de medición a través de la compensación son importantes para obtener resultados de prueba repetibles y precisos.

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Guía de aplicación

Sistemas para la verificación y depuración de diseños de memorias DDR3/4

Tecnología de memorias
desafíos comunes de diseño
estrategias de verificación y depuración
mediciones más utilizadas

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Webinar

Verificación y depuración de diseños de sistemas de memorias DDR

Obtenga las mejores prácticas para realizar la verificación y depuración del diseño del sistema de memoria de doble velocidad de transferencia de datos (DDR) con un osciloscopio. Los ingenieros de diseño y verificación aprenderán sobre la importancia de asegurar un funcionamiento estable y reducir el riesgo de averías después de cualquier cambio realizado durante el ciclo de vida del producto.

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Documentación asociada

Pruebas eficientes de diagrama de ojos para diseños de sistemas DDR3/DDR4

Para depurar problemas relacionados a la integridad de señal en DDR se necesitan algunas herramientas que facilitan el análisis, p. ej. la prueba de máscara, el diagrama de ojos y la separación de lectura y escritura. Las opciones R&S®RTx-K91 (DDR3/DDR3L/LPDDR3) y R&S®RTx-K93 (DDR4/ LPDDR4) ofrecen la configuración completa de herramientas, desde la validación y depuración del sistema hasta los ensayos de conformidad.

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Disparando los ciclos de lectura y escritura de memorias DDR3

Una separación fiable de los ciclos de lectura/escritura es esencial para poder analizar la integridad de señal de las interfaces de memoria DDR. El disparo de zona y el disparo digital del osciloscopio R&S®RTP constituyen funciones de disparo versátiles y flexibles para los ensayos de las interfaces de memoria DDR.

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Compensación en tiempo real con el R&S®RTP

Es preciso compensar las características del intermediador para obtener resultados de medición en la interfaz BGA del dispositivo de memoria DDR. Con la opción R&S®RTP-K122, el R&S®RTP le ofrece compensación en tiempo real para medir y disparar en señales compensadas en tiempo real.

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Optimización de mediciones diferenciales en interfaces de alta velocidad

El sistema de sonda modular R&S®RT-ZM proporciona mediciones en el modo diferencial y el modo común, así como mediciones de terminación única. La conexión a tierra impide que el circuito flote y garantiza señales estables y reproducibles.

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Mejorando la alineación de canal a canal para la adquisición precisa de señales multicanal

Al realizar las mediciones precisas de las señales multicanal, la medición y alineación de la distorsión de señales multicanal son un importante prerrequisito. Para facilitar esta alineación, los osciloscopios R&S®RTO y R&S®RTP brindan una fuente opcional de pulsos diferenciales de alta velocidad (R&S®RTO-B7 y R&S®RTP-B7).

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Depuración de la integridad de señal DDR3 con el R&S®RTP

Depuración de la integridad de señal en un dispositivo DDR3 con el software para ensayos de conformidad y depuración de la integridad de la señal R&S®RTP-K91 DDR3/LPDDR3.

Compensación en tiempo real con el R&S®RTP

Compensación de la ruta de una señal en tiempo real con la opción R&S®RTP-K122. R&S®RTP no solo adquiere formas de onda compensadas, sino que además ofrece funciones de disparo en dicha señal compensada.

Ensayos de integridad de la señal en estructuras de señal diferencial con el R&S®ZNB

Mediciones del tiempo de subida, la impedancia, el desfase intrapar, el desfase interpar, etc. con la opción de dominio temporal ampliado R&S®ZNB-K20.

Signal integrity measurements with jitter analysis

Análisis de la fluctuación de fase con el R&S®RTO

Medición de la fluctuación de fase (jitter) del error en un intervalo de tiempo (TIE) con la opción R&S®RTO-K12. Análisis de la fluctuación de fase del error en un intervalo de tiempo de una señal de reloj en vista de estadística, seguimiento, histograma y espectro para detectar problemas en el reloj.

Eye diagram analysis with the R&S®ZNB: introduction

Análisis de diagrama de ojos con el R&S®ZNB: introducción

Mediciones de diagrama de ojos y ensayos con máscaras de ojo con la opción de dominio temporal ampliado R&S®ZNB-K20. Esta opción se puede utilizar para analizar la fluctuación de fase y el ruido, así como para aplicar énfasis y ecualización en el diagrama de ojos medido.

Eye diagram analysis with the R&S®ZNB: how to set up the measurements

Análisis de diagrama de ojos con el R&S®ZNB: configuración de medición

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