Ensayos de interfaz digital de alta velocidad, ensayo de DDR

DDR: double data rate (memoria de doble velocidad de transferencia de datos)

Depure y verifique su diseño de DDR de forma eficaz

Depuración y verificación de diseños - Ensayos de conformidad

La necesidad de una mayor velocidad, memoria y eficiencia energética está marcando la evolución de las tecnologías de interfaz DDR y LPDDR, según la definición de JEDEC. En estrecha colaboración con JEDEC, Rohde & Schwarz le ofrece potentes soluciones para los ensayos de conformidad de las DDR.

Como parte del diseño global, los dispositivos de memoria y el controlador de memoria DDR también deben funcionar correctamente en presencia de otras interfaces de alta velocidad o incluso de señales inalámbricas. Además de llevar a cabo ensayos de conformidad, las soluciones de ensayo de DDR de Rohde & Schwarz le permitirán verificar y depurar el circuito y el sistema de sus diseños de forma eficaz.

Documentación asociada

Mediciones de diagrama de ojo de datos DDR3

Para depurar problemas de DDR3 SI, se necesitan herramientas como los ensayos con máscaras, los diagramas de ojo y la separación lectura/escritura, que facilitan el análisis. La opción R&S®RTx-K91 le proporciona toda la cadena de herramientas, desde la depuración y verificación del sistema DDR3 hasta los ensayos de conformidad.

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Disparo de los ciclos de lectura y escritura de memorias DDR3

Una separación fiable de los ciclos de lectura/escritura es esencial para poder analizar la integridad de señal de las interfaces de memoria DDR. El disparo de zona y el disparo digital del osciloscopio de R&S®RTP constituyen funciones de disparo versátiles y flexibles para los ensayos de las interfaces de memoria DDR.

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Compensación en tiempo real con R&S®RTP

Es preciso compensar las características del intermediador para obtener resultados de medición en la interfaz BGA del dispositivo de memoria DDR. Con la opción R&S®RTP-K122, R&S®RTP le ofrece compensación en tiempo real para medir y disparar en señales compensadas en tiempo real.

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Optimización de mediciones diferenciales en interfaces de alta velocidad

El sistema de sonda modular R&S®RT-ZM proporciona mediciones en el modo diferencial y el modo común, así como mediciones de terminación única. La conexión de tierra impide la flotación del circuito y garantiza señales estables y reproducibles.

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Comparación de mediciones de jitter en el dominio temporal y frecuencial

El jitter se puede medir en los dominios temporal y frecuencial. Si bien las mediciones del error del intervalo de tiempo basadas en el alcance permiten medir todos los tipos de jitter, las mediciones de jitter basadas en el analizador del ruido de fase se limitan a las señales de reloj, aunque ofrecen una sensibilidad al jitter inigualable.

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Mediciones precisas en placas de circuito impreso digitales de alta velocidad con R&S®ZNB

Gracias a la opción de dominio temporal ampliado R&S®ZNB-K20, R&S®ZNB permite llevar a cabo ensayos precisos de diagrama de ojo, tiempo de subida, desfase, etc. en estructuras de señal de alta velocidad digital. Se pueden instalar herramientas de compensación adicionales para evitar los efectos de los conductores de entrada y los conductores de salida.

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Análisis del jitter con el osciloscopio R&S®RTO

El jitter es uno de los problemas clave de los análisis de integridad de señal. Con las opciones R&S®RTP-K12 y R&S®RTO-K12, los osciloscopios de Rohde & Schwarz permiten medir el jitter del error del intervalo de tiempo, el jitter del periodo, el jitter ciclo-ciclo, etc. y visualizar los resultados en pantallas de seguimiento, histograma o espectro del jitter.

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Compensación en tiempo real con R&S®RTP

Compensación de la ruta de una señal en tiempo real con la opción R&S®RTP-K122. R&S®RTP no solo adquiere formas de onda compensadas, sino que además ofrece funciones de disparo en dicha señal compensada.

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Análisis del jitter con R&S®RTO

Medición del jitter del error del intervalo de tiempo con la opción R&S®RTO-K12. Análisis del jitter del error del intervalo de tiempo de una señal de reloj en vista de estadística, seguimiento, histograma y espectro para detectar perturbaciones en el reloj.

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Análisis de diagrama de ojo con R&S®ZNB: introducción

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Mediciones de diagrama de ojo y ensayos con máscaras de ojo con la opción de dominio temporal ampliado R&S®ZNB-K20. Esta opción se puede utilizar para analizar el jitter y el ruido, así como para aplicar énfasis y ecualización en el diagrama de ojo medido.

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Ensayos de integridad de la señal en estructuras de señal diferencial con R&S®ZNB

Mediciones del tiempo de subida, la impedancia, el desfase intrapar, el desfase interpar, etc. con la opción de dominio temporal ampliado R&S®ZNB-K20.

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