Ensayo de interfaz digital de alta velocidad

Ensayo de interfaz digital de alta velocidad

Soluciones de prueba y medición para ensayos de verificación, depuración y conformidad normativa de diseños digitales de alta velocidad

Las interfaces digitales de alta velocidad son el alma de todos los diseños electrónicos. El aumento de la velocidad de transferencia de los datos y la creciente densidad de integración plantean nuevos retos para el CI, el circuito y el sistema de los diseños. La integridad de la señal es un requisito esencial que debe garantizarse también en presencia de señales inalámbricas cercanas, otras interfaces de alta velocidad y perturbaciones en los carriles de alimentación. Para poder detectar los peores supuestos de forma eficaz, se necesitan funciones de disparo potentes y velocidades de adquisición elevadas.

Las soluciones de ensayo de Rohde & Schwarz le ofrecen herramientas potentes para la depuración y la verificación del sistema, así como ensayos de conformidad de:

  • La integridad de la señal: ensayo de la interfaz
  • La integridad de la señal: ensayo de la placa de circuito impreso e interconexión
  • Depuración de nivel de protocolo
  • Ensayo de integridad eléctrica
Ensayo de interfaz digital de alta velocidad, ensayo de DDR

DDR: double data rate (memoria de doble velocidad de transferencia de datos)

  • Soluciones de ensayo para la depuración y la verificación de diseños
  • Soluciones de medición para ensayos de conformidad
Ensayo de interfaz digital de alta velocidad, ensayo USB

USB – bus serial universal

  • Soluciones de ensayo para la depuración y la verificación de diseños
  • Soluciones de medición para ensayos de conformidad
Ensayo de interfaz digital de alta velocidad, ensayo PCIe

PCIe – interconexión de componente periférico exprés

  • Soluciones de ensayo para la depuración y la verificación de diseños
  • Soluciones de medición para ensayos de conformidad
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