Ensayo de interfaz digital de alta velocidad, ensayo PCIe

PCIe – interconexión de componente periférico exprés

PCIe – Verifique y optimice el diseño de su sistema correctamente

Depuración y verificación de diseños - Ensayos de conformidad

La arquitectura PCIe es el alma de la mayoría de los diseños informáticos y conecta los subsistemas del procesador y la memoria con los dispositivos terminales a través del complejo raíz. La creciente demanda de velocidad está impulsando las mediciones de normalización en PCI-SIG y su adopción en centros de datos, PC y aplicaciones integradas. En estrecha colaboración con PCI-SIG, Rohde & Schwarz le ofrece una amplia gama de soluciones para ensayos de conformidad PCIe.

Además de llevar a cabo ensayos de conformidad, las soluciones de ensayo de PCIe de Rohde and Schwarz le permitirán verificar y depurar el circuito y el sistema de sus diseños de forma eficaz, incluso en presencia de otras interfaces y señales inalámbricas.

Documentación asociada

Compensación en tiempo real con R&S®RTP

La compensación de los cables y los adaptadores de fijación es importante para efectuar mediciones correctas en PCIe. Con la opción R&S®RTP-K122, R&S®RTP proporciona compensación en tiempo real para medir y disparar en las señales compensadas en tiempo real.

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Optimización de mediciones diferenciales en interfaces de alta velocidad

El sistema de sonda modular R&S®RT-ZM proporciona mediciones en el modo diferencial y el modo común, así como mediciones de terminación única. La conexión de tierra impide la flotación del circuito y garantiza señales estables y reproducibles.

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Comparación de mediciones de jitter en el dominio temporal y frecuencial

El jitter se puede medir en los dominios temporal y frecuencial. Si bien las mediciones del error del intervalo de tiempo basadas en el alcance permiten medir todos los tipos de jitter, las mediciones de jitter basadas en el analizador del ruido de fase se limitan a las señales de reloj, aunque ofrecen una sensibilidad al jitter inigualable.

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Mediciones precisas en placas de circuito impreso digitales de alta velocidad con R&S®ZNB

Gracias a la opción de dominio temporal ampliado R&S®ZNB-K20, R&S®ZNB permite llevar a cabo ensayos precisos de diagrama de ojo, tiempo de subida, desfase, etc. en estructuras de señal de alta velocidad digital. Se pueden instalar herramientas de compensación adicionales para evitar los efectos de los conductores de entrada y los conductores de salida.

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Análisis del jitter con el osciloscopio R&S®RTO

El jitter es uno de los problemas clave de los análisis de integridad de señal. Con las opciones R&S®RTP-K12 y R&S®RTO-K12, los osciloscopios de Rohde & Schwarz permiten medir el jitter del error del intervalo de tiempo, el jitter del periodo, el jitter ciclo-ciclo, etc. y visualizar los resultados en pantallas de seguimiento, histograma o espectro del jitter.

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Comprobación del comportamiento del jitter real de los relojes de referencia PCIe (Refclk)

A medida que aumenta la velocidad de transferencia de los datos, los límites de jitter de Refclk PCIe se estrechan. Dada la mayor sensibilidad al jitter de los analizadores de ruido de fase (PNA), la especificación PCIe Gen5 ha introducido ensayos basados en PNA para verificar el comportamiento del jitter de Refclk real.

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Compensación en tiempo real con R&S®RTP

Compensación de la ruta de una señal en tiempo real con la opción R&S®RTP-K122. R&S®RTP no solo adquiere formas de onda compensadas, sino que además ofrece funciones de disparo en dicha señal compensada.

Signal integrity measurements with jitter analysis
Análisis del jitter con R&S®RTO

Medición del jitter del error del intervalo de tiempo con la opción R&S®RTO-K12. Análisis del jitter del error del intervalo de tiempo de una señal de reloj en vista de estadística, seguimiento, histograma y espectro para detectar perturbaciones en el reloj.

Signal Integrity Measurements
Análisis de integridad de la señal en un cable USB-C con R&S®ZNA

En combinación la opción de dominio temporal R&S®ZNA-K2 y la opción de dominio temporal ampliado R&S®ZNA-K20, R&S®ZNA VNA le ofrece una gran diversidad de mediciones de integridad de señal. El dispositivo bajo prueba, un cable USB-C, se analiza en el dominio frecuencial y temporal, así como en la representación de ojo de diagrama.

Eye diagram analysis with the R&S®ZNB: introduction
Análisis de diagrama de ojo con R&S®ZNB: introducción

Mediciones de diagrama de ojo y ensayos con máscaras de ojo con la opción de dominio temporal ampliado R&S®ZNB-K20. Esta opción se puede utilizar para analizar el jitter y el ruido, así como para aplicar énfasis y ecualización en el diagrama de ojo medido.

Eye diagram analysis with the R&S®ZNB: how to set up the measurements
Análisis de diagrama de ojo con R&S®ZNB: configuración de medición

Mediciones de diagrama de ojo y ensayos con máscaras de ojo con la opción de dominio temporal ampliado R&S®ZNB-K20. Esta opción se puede utilizar para analizar el jitter y el ruido, así como para aplicar énfasis y ecualización en el diagrama de ojo medido.

Signal integrity testing on differential signal structures with the R&S®ZNB
Ensayos de integridad de la señal en estructuras de señal diferencial con R&S®ZNB

Mediciones del tiempo de subida, la impedancia, el desfase intrapar, el desfase interpar, etc. con la opción de dominio temporal ampliado R&S®ZNB-K20.

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