PCIe – interconexión de componente periférico exprés

Compensación en tiempo real con el R&S®RTP

La compensación de los cables y los adaptadores de fijación es importante para efectuar mediciones correctas en PCIe. Con la opción R&S®RTP-K122, R&S®RTP proporciona compensación en tiempo real para medir y disparar en las señales compensadas en tiempo real.

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Optimización de mediciones diferenciales en interfaces de alta velocidad

El sistema de sonda modular R&S®RT-ZM proporciona mediciones en el modo diferencial y el modo común, así como mediciones de terminación única. La conexión a tierra impide que el circuito flote y garantiza señales estables y reproducibles.

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Comparación de mediciones de fluctuación de fase en el dominio temporal y frecuencial

El jitter se puede medir en los dominios temporal y frecuencial. Si bien las mediciones del error del intervalo de tiempo basadas en el alcance permiten medir todos los tipos de jitter, las mediciones de jitter basadas en el analizador del ruido de fase se limitan a las señales de reloj, aunque ofrecen una sensibilidad al jitter inigualable.

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Mediciones precisas en placas de circuito impreso digitales de alta velocidad con R&S®ZNB

Gracias a la opción de dominio temporal ampliado R&S®ZNB-K20, R&S®ZNB permite llevar a cabo ensayos precisos de diagrama de ojo, tiempo de subida, sesgo, etc. en estructuras de señal de alta velocidad digital. Se pueden instalar herramientas de compensación adicionales para evitar los efectos de los conductores de entrada y los conductores de salida.

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Análisis del jitter con el osciloscopio R&S®RTO

El jitter es uno de los problemas clave de los análisis de integridad de señal. Con las opciones R&S®RTP-K12 y R&S®RTO-K12, los osciloscopios de Rohde & Schwarz permiten medir el jitter del error del intervalo de tiempo, el jitter del periodo, el jitter ciclo-ciclo, etc. y visualizar los resultados en pantallas de seguimiento, histograma o espectro del jitter.

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Comprobación del comportamiento del jitter real de los relojes de referencia PCIe (Refclk)

A medida que aumenta la velocidad de transferencia de los datos, los límites de jitter de Refclk PCIe se estrechan. Dada la mayor sensibilidad al jitter de los analizadores de ruido de fase (PNA), la especificación PCIe Gen5 ha introducido ensayos basados en PNA para verificar el comportamiento del jitter de Refclk real.

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Compensación y medición de un conector PCIe5 con R&S®VNA

Tomando como referencia la configuración y medición con un analizador de redes vectoriales R&S®ZNA estamos demostrando el proceso de compensación de un conector PCIe5 integrado en un adaptador de fijación.

Compensación en tiempo real con el R&S®RTP

Compensación de la ruta de una señal en tiempo real con la opción R&S®RTP-K122. R&S®RTP no solo adquiere formas de onda compensadas, sino que además ofrece funciones de disparo en dicha señal compensada.

Análisis de la fluctuación de fase con el R&S®RTO

Medición de la fluctuación de fase (jitter) del error en un intervalo de tiempo (TIE) con la opción R&S®RTO-K12. Análisis de la fluctuación de fase del error en un intervalo de tiempo de una señal de reloj en vista de estadística, seguimiento, histograma y espectro para detectar problemas en el reloj.

Análisis de integridad de la señal en un cable USB-C con R&S®ZNA

En combinación la opción de dominio temporal R&S®ZNA-K2 y la opción de dominio temporal ampliado R&S®ZNA-K20, R&S®ZNA VNA le ofrece una gran diversidad de mediciones de integridad de señal. El dispositivo bajo prueba, un cable USB-C, se analiza en el dominio frecuencial y temporal, así como en la representación de diagrama de ojos.

Análisis de diagrama de ojos con el R&S®ZNB: introducción

Mediciones de diagrama de ojos y ensayos con máscaras de ojo con la opción de dominio temporal ampliado R&S®ZNB-K20. Esta opción se puede utilizar para analizar la fluctuación de fase y el ruido, así como para aplicar énfasis y ecualización en el diagrama de ojos medido.

Análisis de diagrama de ojos con el R&S®ZNB: configuración de medición

Mediciones de diagrama de ojos y ensayos con máscaras de ojo con la opción de dominio temporal ampliado R&S®ZNB-K20. Esta opción se puede utilizar para analizar la fluctuación de fase y el ruido, así como para aplicar énfasis y ecualización en el diagrama de ojos medido.

Ensayos de integridad de la señal en estructuras de señal diferencial con el R&S®ZNB

Mediciones del tiempo de subida, la impedancia, el desfase intrapar, el desfase interpar, etc. con la opción de dominio temporal ampliado R&S®ZNB-K20.