Pruebas de interfaz digital de alta velocidad, prueba USB

USB – bus universal en serie

Depuración y verificación del sistema de los diseños USB

La interfaz USB se utiliza para conectar computadoras y dispositivos periféricos. La demanda de velocidades de datos superiores y tiempos de carga menores, sumada a la integración de las tecnologías Thunderbolt y DisplayPort, está impulsando mediciones de normalización en el USB Implementers Forum (USB-IF).

Rohde & Schwarz trabaja en estrecha colaboración con el USB-IF para ofrecer potentes soluciones para pruebas de interfaces, placas de circuitos impresos, cables y conectores, además de ensayos de suministro de energía. Nuestras soluciones de prueba le permitirán depurar y verificar el sistema de sus diseños de forma eficaz y lanzar sus productos al mercado en menos tiempo.

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Webinars

Webinar: USB 3.2 electrical compliance testing

USB 3.2 electrical compliance testing

Broadcast date: September 28, 2023

This webinar is intended for engineers who work on high-speed digital design and test.

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USB 3.2 compliance testing

USB 3.2 compliance testing

This webinar is intended for engineers who work on high-speed digital design and test. In particular, we will be focusing at USB interfaces. After a quick introduction into USB technology we will be discussing the details of USB 2.0 and 3.2 compliance testing. The webinar will enable you to learn common signal integrity issues, and we will be guiding you through related challenges.

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Compliance testing and signal integrity debugging of USB 3.2 interfaces

Compliance testing and signal integrity debugging of USB 3.2 interfaces

This webinar is intended for engineers who work on high-speed digital design and test. In particular we will be looking at USB interfaces. We will be starting with an introduction in the purpose, the technology and the different standards and applications of this digital interface. Challenges, specifications and test procedures open the webinar’s test & measurement core.

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Conformance Test failed
Conformance Test failed
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Conformance Test failed. What now?

Conformance tests are performed on serial data interfaces such as USB, HDMI and PCI Express to ensure interoperability between electronic devices and accessories. In cases where signal integrity problems are encountered, the R&S®RTP oscilloscope supports root cause analysis by providing powerful tools such as eye diagrams, jitter and noise separation as well as time domain reflectometry.

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El osciloscopio de alto rendimiento R&S®RTP164
El osciloscopio de alto rendimiento R&S®RTP164
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Rohde & Schwarz y Eurofins Digital Testing brindan un kit de pruebas avanzado para los programas de ensayos de conformidad de interfaces de alta velocidad

El aumento de las tecnologías de comunicación de alta velocidad ha incrementado la demanda de los ensayos tanto de conformidad y como de compatibilidad que deben cumplir con los crecientes estándares de la industria. Rohde & Schwarz y Eurofins Digital Testing se han asociado para brindar acceso a las últimas herramientas de análisis de señales de alta velocidad y ensayos de conformidad con el osciloscopio de alto rendimiento R&S®RTP164. También, Eurofins Digital Testing tiene previsto brindar servicios de certificación para las tecnologías de comunicación de alta velocidad como USB. Encuentre más información en nuestro folleto.

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Documentación asociada
Compensación en tiempo real con el R&S®RTP

Compensación en tiempo real con el R&S®RTP

La compensación de los cables y los adaptadores de fijación es importante para efectuar mediciones correctas en USB. Con la opción R&S®RTP-K122, R&S®RTP proporciona compensación en tiempo real para medir y disparar en las señales compensadas en tiempo real.

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Optimización de mediciones diferenciales en interfaces de alta velocidad

Optimización de mediciones diferenciales en interfaces de alta velocidad

El sistema de sonda modular R&S®RT-ZM proporciona mediciones en el modo diferencial y el modo común, así como mediciones de terminación única. La conexión a tierra impide que el circuito flote y garantiza señales estables y reproducibles.

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Comparación de mediciones de jitter en el dominio temporal y frecuencial

Comparación de mediciones de jitter en el dominio temporal y frecuencial

El jitter se puede medir en los dominios temporal y frecuencial. Si bien las mediciones del error del intervalo de tiempo basadas en el alcance permiten medir todos los tipos de jitter, las mediciones de jitter basadas en el analizador del ruido de fase se limitan a las señales de reloj, aunque ofrecen una sensibilidad al jitter inigualable.

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Mediciones precisas en placas de circuito impreso digitales de alta velocidad con R&S®ZNB

Mediciones precisas en placas de circuito impreso digitales de alta velocidad con R&S®ZNB

Gracias a la opción de dominio temporal ampliado R&S®ZNB-K20, R&S®ZNB permite llevar a cabo ensayos precisos de diagrama de ojo, tiempo de subida, sesgo, etc. en estructuras de señal de alta velocidad digital. Se pueden instalar herramientas de compensación adicionales para evitar los efectos de los conductores de entrada y los conductores de salida.

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Análisis del jitter con el osciloscopio R&S®RTO

Análisis del jitter con el osciloscopio R&S®RTO

El jitter es uno de los problemas clave de los análisis de integridad de señal. Con las opciones R&S®RTP-K12 y R&S®RTO-K12, los osciloscopios de Rohde & Schwarz permiten medir el jitter del error del intervalo de tiempo, el jitter del periodo, el jitter ciclo-ciclo, etc. y visualizar los resultados en pantallas de seguimiento, histograma o espectro del jitter.

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Depuración de la integridad de la señal en un dispositivo USB 3.1 con R&S®RTP

Mediciones de diagrama de ojo en un dispositivo USB 3.1 Gen1 con R&S®RTP, incluidos ensayos con máscaras y mediciones de ojo, como la altura y ancho de ojo y el histograma del jitter.

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Depuración de una interfaz USB 3.1 Gen1 con compensación en tiempo real

Mediciones de la integridad de la señal en un dispositivo USB 3.1 Gen1. Con la opción R&S®RTP-K122, R&S®RTP proporciona compensación en tiempo real para medir y disparar en las señales compensadas en tiempo real.

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Compensación en tiempo real con el R&S®RTP

Compensación de la ruta de una señal en tiempo real con la opción R&S®RTP-K122. R&S®RTP no solo adquiere formas de onda compensadas, sino que además ofrece funciones de disparo en dicha señal compensada.

Signal integrity measurements with jitter analysis

Análisis de la fluctuación de fase con el R&S®RTO

Medición de la fluctuación de fase (jitter) del error en un intervalo de tiempo (TIE) con la opción R&S®RTO-K12. Análisis de la fluctuación de fase del error en un intervalo de tiempo de una señal de reloj en vista de estadística, seguimiento, histograma y espectro para detectar perturbaciones en el reloj.

Signal Integrity Measurements

Análisis de integridad de la señal en un cable USB-C con R&S®ZNA

En combinación la opción de dominio temporal R&S®ZNA-K2 y la opción de dominio temporal ampliado R&S®ZNA-K20, R&S®ZNA VNA le ofrece una gran diversidad de mediciones de integridad de señal. El dispositivo bajo prueba, un cable USB-C, se analiza en el dominio frecuencial y temporal, así como en la representación de diagrama de ojos.

Eye diagram analysis with the R&S®ZNB: introduction

Análisis de diagrama de ojos con el R&S®ZNB: introducción

Mediciones de diagrama de ojos y ensayos con máscaras de ojo con la opción de dominio temporal ampliado R&S®ZNB-K20. Esta opción se puede utilizar para analizar la fluctuación de fase y el ruido, así como para aplicar énfasis y ecualización en el diagrama de ojos medido.

Eye diagram analysis with the R&S®ZNB: how to set up the measurements

Análisis de diagrama de ojos con el R&S®ZNB: configuración de medición

Mediciones de diagrama de ojos y ensayos con máscaras de ojo con la opción de dominio temporal ampliado R&S®ZNB-K20. Esta opción se puede utilizar para analizar la fluctuación de fase y el ruido, así como para aplicar énfasis y ecualización en el diagrama de ojos medido.

Signal integrity testing on differential signal structures with the R&S®ZNB

Ensayos de integridad de la señal en estructuras de señal diferencial con el R&S®ZNB

Mediciones del tiempo de subida, la impedancia, el desfase intrapar, el desfase interpar, etc. con la opción de dominio temporal ampliado R&S®ZNB-K20.

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Ensayo de conformidad de un dispositivo USB 2.0 con R&S®RTO. Automatización del ensayo con la opción R&S®RTO-K21 (R&S®ScopeSuite)

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