Regelkreisanalyse

Leistungswandler

Analyse des Schaltverhaltens

Lösungen für die Schaltanalyse von Leistungswandlern

Zur Steigerung der Performance und des Wirkungsgrads von Leistungswandlern wird häufig die Schaltfrequenz erhöht. Bei einer Erhöhung der Schaltgeschwindigkeit bei Leistungselektronik-Designs sind das Zeitverhalten, die Interaktion zwischen High-Side- und Low-Side-Transistoren und unerwünschte Effekte wie Kurzschluss (Shoot-Through) und hohe elektromagnetische Störaussendungen (EMI) zu berücksichtigen. Oszilloskope, Leistungstastköpfe und Software von Rohde & Schwarz helfen Entwicklern von Leistungselektronik, diese Probleme bei der Charakterisierung und Optimierung ihrer Designs zu lösen.

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Verification Methods Of Snubber Circuits in Flyback Converters

The demand having a snubber circuit in the power supply topology leads to specific verification methods during the design to obtain a proper and reliable design. These verification methods are the main focus in this AppNote.

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Tips & Tricks on Double-Pulse Testing

From designing a test setup to performing accurate measurements. Double-Pulse testing is a standard test-method used in power electronics design. Accurate measurements require a careful design of the test setup and the selection of the right measurement instruments. This application note discusses important aspects of double-pulse test setups as well as how to perform accurate measurements.

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AppCard: Erweiterte Testabdeckung bei Halbbrückenkonfigurationen mit harter Schaltung

Die Designs von Leistungswandlern und Wechselrichtern für höhere Leistungen basieren üblicherweise auf Halbbrückenkonfigurationen mit harter Schaltung. Bei derartigen Aufbauten müssen Anwender besonderes Augenmerk auf korrekte Schaltvorgänge legen, um Kurzschlussereignisse (Shoot-Through) zu vermeiden. Die Konfiguration komplexer Echtzeit-Triggerbedingungen mit den R&S®RTE und R&S®RTO Oszilloskopen erweitert die Testabdeckung und somit die Robustheit von Wandler- und Wechselrichtersystemen.

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White Paper: Wichtige Aspekte bei Gate-Treiber-Messungen

Je kürzer die Ein- und Ausschaltzeiten sind, die sich mit einem Gate-Treiber realisieren lassen, desto schwieriger wird es, exakte Messungen durchzuführen. Sowohl die Auswahl des richtigen Tastkopfs als auch der Einsatz eines optimierten Messverfahrens wirken sich maßgeblich auf die Messgenauigkeit aus. Dieses White Paper bietet eine Orientierungshilfe.

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Webinar: Messungen an Halbbrücken- und Gate-Treiber-Schaltungen – Anforderungen und Messverfahren

Registrieren Sie sich und sehen Sie sich das Webinar vom März 2020 an: Messungen an Halbbrücken- und Gate-Treiber-Schaltungen – Anforderungen und Messverfahren, mit Tom Neville, Technology Manager bei Rohde & Schwarz.

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White paper: Testing SiC designs

This white paper discusses EMI challenges associated with migrating a design from Si to SiC, test tools and test methodology, along with mitigation and optimization techniques.

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Schaltanalyse von Wide-Bandgap-Bauelementen

Vermehrte Nutzung von Wide-Bandgap-Materialien anstelle von Silizium

Auf dem Markt sind immer mehr Leistungswandler-Designs zu finden, die auf Wide-Bandgap-(WBG)-Materialien wie SiC und GaN setzen. Die hohe Schaltgeschwindigkeit von WBG-Halbleitern muss umfassend charakterisiert werden, um Leistungsverluste beim Schalten und im leitenden Zustand zu bestimmen, den Wirkungsgrad zu optimieren und negative Effekte wie Kurzschluss (Shoot-Through) und hohe elektromagnetische Störaussendungen (EMI) zu vermeiden. Ein Rohde & Schwarz Oszilloskop mit hoher Auflösung und niedrigem Rauschen kombiniert mit einem Rohde & Schwarz differenziellen Hochspannungstastkopf mit ausgezeichneter Gleichtaktunterdrückung über einen weiten Frequenzbereich ermöglicht Entwicklern von Leistungswandlern folgende Messungen:

  • Präzise Messung von Leistungsverlusten beim Schalten und in leitendem Zustand
  • Verifizierung von Anstiegs-/Abfallzeiten vom dreistelligen ps-Bereich bis in den zweistelligen ns-Bereich
  • Charakterisierung von Zeitereignissen wie z. B. Totzeiten

Lesen Sie das Fact Sheet zu den differenziellen Hochspannungstastköpfen von Rohde & Schwarz:

Messgeräte für die Schaltanalyse

Die Designs von Leistungswandlern sehen höhere Schaltfrequenzen und zunehmend auch höhere Spannungen vor. Für präzise Schaltanalysemessungen sind ein hochauflösendes Oszilloskop und differenzielle Hochspannungstastköpfe mit ausgezeichneter Performance, großem Gegentakt- und Gleichtaktspannungsbereich und einer hohen Gleichtaktunterdrückung über die gesamte Bandbreite erforderlich.

Verwandte Produkte

R&S®RTM3000/R&S®RTA4000

Sehen Sie mehr Signaldetails mit der „Power of Ten“. Diese Oszilloskope bieten bis zu 1 GHz Bandbreite, 10 bit vertikale Auflösung und einen ultratiefen Speicher für die Erfassung längerer Zeitintervalle bei voller Bandbreite.

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R&S®RTE1000/R&S®RTO2000

Diese vollintegrierten Multi-Domain-Oszilloskope eignen sich hervorragend für die Analyse des Schaltverhaltens und für die EMV-Fehlersuche. Die Oszilloskop-Serie wartet mit Bandbreiten bis zu 6 GHz, 16 bit vertikaler Auflösung und bis zu 2 Gsample maximaler Speichertiefe auf.

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R&S®RT-ZHD differenzielle Hochspannungstastköpfe

Diese von Rohde & Schwarz entwickelten Tastköpfe bieten erstklassige Performance, einen großen Gegentakt- und Gleichtaktspannungsbereich und eine ausgezeichnete Gleichtaktunterdrückung über die gesamte Bandbreite.

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Messung des Wirkungsgrads

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